이상적인 경우에는 Metal과 Semiconductor의 vacuum level과 work function(fermi energy) 의 차이가 없어서 energy band가 평평하게 유지 되지만, 실제 device에서도 과연 그럴까요?
실제 소자에서는 metal과 semiconductor의 Fermi energy에 차이가 있다면 이것이 oxide와의 표면에 전하가 쌓이면서 band bending이라는 것이 일어납니다.
실제 소자에서 metal과 semiconductor의 work function, 즉 Fermi level에 차이가 있다면 oxide와의 표면에 전하가 쌓이면서 쌓인 전하들이 만들어낸 전기장에 의해 전압차가 생긴다.
MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)의 기초
MOSFET은 transistor의 한 종류입니다.
transistor라는 소자를 간략하게 설명하자면
Source와 Drain 이라고 부르는 두 부분과, 이 두 부분 사이에 흐르는 전류를 직접적인 접촉 없이
외부에서 바꿔 줄 수 있는 Gate라고 부르는 부분을 가지고 있는, 3-terminal을 갖고 있는 소자입니다.
Source와 Drain 사이에 V_DS라고 부르는 전압을 전류가 흐를 수 있는 반도체로 이루어진 채널에 걸어주고, oxide로 채널과는 분리가 되어 있는 Gate쪽에 gate voltage 라고 부르는 V_G를 걸어줍니다. Gate에서 생성된 채널과의 전위차로 인해서 전기장이 생성되게 됩니다
Gate에 전압을 걸어도 Oxide 라는 부도체로 아래의 반도체 부분과 분리되어 있기 때문에
이상적으로는 Gate와 channel 사이에는 전기장만 생성 될 뿐, 전류가 흐르지 않습니다.
(하지만, 실제로는 어느정도의 leakage current가 생길 수 있습니다.)
Oxide 물질은 대부분 dielectric 입니다.
dielectric 이란?
MOSFET의 동작원리
'반도체 이야기 > 물리전자공학&반도체소자' 카테고리의 다른 글
pn junction minority carrier (0) | 2020.05.24 |
---|---|
MOSFET의 세가지 상태(Accumulation,Depletion,Inversion) (1) | 2020.04.13 |
반도체와 p-n 접합(p-n junction) / Ohmic contact & Schottky contact (1) | 2020.04.12 |
반도체소자를 위한 물리전자공학 요약 (0) | 2020.03.25 |
에너지 밴드에 대한 정량적 고찰:E-k 다이어그램 2편 (0) | 2020.03.03 |